Цифровых знаков восприятие

По данным таблицы №1 построен возрастающий участок АBCМ (Sтэ=0-32 мм²) кривой (от нуля до точки М) зависимости величины отношения Sтэ/Sок (рис.13) от величины площади высветившихся точечных элементов отображения знака (Sтэ). Точки A, B, C, M кривой соответствуют значениям величин площади высветившихся точечных элементов, отображенных на рис.10б – рис.10д. В таблице №1 эти точки отмечены «звездочками». Максимальное значение величины отношения Sтэ/Sок равно 1 (точка М), достигаемое при равенстве величины площади (рис.10д) из высветившихся точечных элементов и величины площади «окна» (Sтэ=Sок=32 мм²) из не высветившихся точечных элементов. Величина отношения Sтэ/Sок характеризует возможность обнаружения контура знака (Sтэ) из высветившихся точечных элементов без оценки его формы. И чем больше эта величина (при Sтэ<Sок), тем возможность обнаружения знака выше. На возрастающем участке кривой АВCMDEF (рис.13) возможность обнаружения знака увеличивается (рис.11а-рис.11д), когда меньшая величина площади знака из высветившихся точечных элементов (Sтэ = 0 мм² - 32 мм²) выделяется на фоне большей величины площади «окна» его (Sок=64 мм² - 32 мм²) из не высветившихся точечных элементов. В точке М кривой (при Sтэ=Sок) величина отношения Sтэ/Sок равна обратной величине этого отношения Sок/Sтэ (рис.11д, рис.11е), которая также характеризует возможность обнаружения знака из высветившихся точечных элементов. В этой точке возможность обнаружения знака максимальна (Sтэ=Sок). По данным таблицы №3 построен убывающий участок MDEF кривой (от точки М вправо до 0) зависимости величины отношения Sок/Sтэ от величины площади из высветившихся точечных элементов отображения знака (Sтэ).

Точки M, D, E, F кривой соответствуют значениям величин площади из высветившихся точечных элементов (рис.11е–рис.11и). В таблице №2 эти точки отмечены двумя звездочками. На убывающем участке кривой АВCMDEF (от точки М вправо до 0) возможность обнаружения контура знака уменьшается (рис.10е - рис.10и) при уменьшении площади «окна» из не высветившихся точечных элементов. Кривая ABCMDEF, состоящая из возрастающего и убывающего участков, характеризует возможность обнаружения контура знака в зависимости от соотношений:

1. величины площади из высветившихся точечных элементов контура знака к величине площади «окна» (Sтэ/Sок) из не высветившихся точечных элементов на возрастающем участке кривой при Sтэ<Sок от 0 до 1. Увеличивается возможность обнаружения контура знака. 2. величины площади «окна» из не высветившихся точечных элементов к величине площади из высветившихся точечных элементов (Sок/Sтэ) на убывающем участке кривой при Sок<Sтэ от 1 до 0 (уменьшается возможность обнаружения контура знака).

Симметричная форма двух участков общей кривой относительно прямой (OMN), проходящей через точку М перпендикулярно оси абсцисс подтверждает возможности обнаружения контура знака как при отношении величины Sтэ/Sок, так и при отношении величины Sок/Sтэ. Максимальной возможностью обнаружения контура знака (точка М на кривой) является условие, при котором величина площади контура знака из высветившихся точечных элементов равна величине площади его «окна» (Sтэ=Sок) из не высветившихся точечных элементов. Т.е., отношение величины площади контура знака из высветившихся точечных элементов (Sтэ) к величине площади «окна» его (Sок) из не высветившихся точечных элементов равно 1 (Sтэ/Sок=1).Только при достижении равенства значений величин площади «окна» из не высветившихся точечных элементов и площади контура знака из высветившихся точечных элементов (Sтэ=Sок), возможность обнаружения знака максимальна (Sтэ/Sок=1). Точка М кривой (рис.13), в которой соблюдено условие равенства величины площади контура знака из высветившихся точечных элементов и величины площади «окна» его (Sтэ=Sок=32 мм²) из не высветившихся точечных элементов, отображена результатами вычислений (Sтэ/Sок и Sок/Sтэ), относящихся к рис.10ж и рис.10е. В двух таблицах №1 и №2 (рис.11, рис.12) эти результаты отмечены одной и двумя «звездочками», соответственно.

Подобным же образом построена кривая GHIMJKL (рис.13). Для построения этой кривой выбран другой метод, который отличается тем, что функция равная произведению аргументов (Sтэ х Sок), деленному на сумму этих аргументов (Sтэ+Sок), выражена величиной с размерностью площади (мм²). Т.е. числовые значения функции показывают не просто возможность обнаружения контура знака в относительных величинах, а показывают величину эквивалентной площади обнаружения (Sобн) контура знака в каждой точке кривой. Кривая GHIMJKL, отображающая функцию Sобн=(Sтэ х Sок):(Sтэ+Sок) в зависимости от величины площади контура знака (Sтэ), соответствует в каждой точке величине эквивалентной площади обнаружения (Sобн) контура знака в пределах формата индикатора. Максимум кривой GHIMJKL в точке М совпадает с максимумом кривой АВCMDEF в той же точке М при выбранном масштабе по оси ординат. В этой точке при равенстве величины площади из высветившихся точечных элементов отображения контура знака и величины площади «окна» его (Sтэ=Sок=32 мм²) из не высветившихся точечных элементов достигается максимальная возможность обнаружения контура знака (Sтэ/Sок=Sок/Sтэ=1). Причем максимальная возможность обнаружения контура знака подтверждается конкретной, имеющей размерность (мм²), величиной эквивалентной площадью обнаружения контура знака (Sобн): Sобн=(Sтэ х Sок):(Sтэ+Sок).